Модель электронного муарового измерительного прибора

Аннотация

Представлена математическая модель возникновения муарового явления в электронном измерительном приборе. В классических муаровых оборудованиях оптическая система проектирует систему штриховок на исследываемую поверхность, которую следующая оптическая система проектирует на интерференционную решетку. В случае муарового явления возникшая электронным методом деформированная информационная решетка поступает непосредственно в память вычислительной машины, в которой происходит обработка информации. Представленный метод может быть использован для конструкции специализированного измерительного прибора.